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成像/投影
在其最简单的形式中，成像分析主要是利用显微镜方法来聚焦表面（包括光学和电子）。分析提供的信息会受到所使用的仪器能力的限制。在此分析类型中主要采用的分析技术是扫描式电子显微镜（SEM）。

元素、无机物或者分子种类的横向分配（例如位置）可以使用以下方法来测量：

• 电子束技术：SEM，EDS和Auger
• 离子束技术：TOF-SIMS和FIB

ZHEIXIEFANGFATIGONGLEDITUHUOTUXIANGLAIXIANSHIBUTONGZHONGLEIYUANSUDEXIANGDUIWEIZHI，XIANGGUANDEGONGNENG，QUEXIAN，KELIDENGDEYOUYONGXINXI。

YEKEYISHIYONGQITADEJISHULAIHUODETUXIANG：

• Raman测量分子振动，并且提供有关官能基、碳类型和压力/应力的信息。
• AFM提供表面粗糙的图像、硬度和磁性成像。
• XPS提供元素和化学映像。
• 光学轮廓测定可以产生表面的三维成像，三维测量或特定功能的成像。

ZAIYIGEGUIMOJIAODADEJINGYUANYINGXIANGDAO300mm，LEXESKEYIYONGYUYINGSHECHANZA、BOMOCHENGFENHEZAZHI；XRR/XRFKEYIYONGYUYINGXIANGMODEHOUDUHEMIDU；TXRFKEYIYONGYUYINGXIANGYUANSUWURANWU。

主要分析技术

• Auger
• EDS
• FIB
• LEXES
• SEM
• TOF-SIMS
• XRF
• XRR

其他分析技术

• AFM
• Raman
• XPS